https://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=9ae8b7a2-8abc-4b46-93d2-fab7425ea399
Journal of Vacuum Science and Technology A, 2006, Volume : 24, Numéro : 3
We use analytical transmission electron microscopy to map the composition of Ge dot and Si/Si1−xGex island structures grown on (001) Si by molecular beam...
Article de périodique (revue)
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