https://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=ee2650dc-a26d-49c6-942d-7594595af7e0
Rechercher Baribeau, J. -M; Rechercher Wu, X; Rechercher Lockwood, D. J; Rechercher Tay, L; Rechercher Sproule, G. I
Journal of Vacuum Science and Technology B, 2004, Volume : 22, Numéro : 3
We present a structural and chemical analysis of high-vacuum deposited Si filmsgrown on clean or oxidized Si (001) wafers by low-temperature molecular-beam...
Article de périodique (revue)
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