https://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=9823899f-4842-4cb0-a4a4-d77b44386b9f
Rechercher Yap, K; Rechercher Delâge, André; Rechercher Lamontagne, Boris; Rechercher Janz, Siegfried; Rechercher Xu, D.-X; Rechercher Lapointe, J; Rechercher Waldron, Philip; Rechercher Schmid, Jens; Rechercher Chow-Chong, Phillip; Rechercher Post, Edith; Rechercher Syrett, B
Silicon Photonics II, 9 février 2007
We describe a novel non-destructive technique to measure the sidewall roughness induced scattering loss of SOI ridge waveguides using an integrated 5x17 star...
Article de périodique (revue)