https://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=bb4563cf-20ae-4c25-a510-74b225a72e28
Rechercher Bates, J. R; Rechercher Miyahara, Y; Rechercher Burgess, J. A. J; Rechercher Iglesias-Freire, Ó; Rechercher Grütter, P
Nanotechnology, 28 février 2013, Volume : 24, Numéro : 11
Focused ion beam (FIB) milling is a common fabrication technique to make nanostencil masks which has the unintended consequence of gallium ion implantation...
Article de périodique (revue)