Integrated circuit defect-sensitivity : theory and computational models (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Integrated circuit defect-sensitivity : theory and computational modelshttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1551619~S6*frcRechercher Pineda de Gyvez, José; Rechercher Gyvez, José Pineda de; Rechercher De Gyvez, José PinedaKluwer Academic Publishers, 1993, ISBN : 9780792393061Livre
Integrated circuit manufacturability : the art of process and design integration (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Integrated circuit manufacturability : the art of process and design integrationhttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1896611~S6*frcRechercher Pineda de Gyvez, José; Rechercher Pradhan, Dhiraj KIEEE Press, 1999, ISBN : 9780780334472Livre
Special issue on advanced yield modeling (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Special issue on advanced yield modelinghttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1604547~S6*frcRechercher Pineda de Gyvez, José; Rechercher Cheek, Gary; Rechercher Gyvez, José Pineda de; Rechercher De Gyvez, José PinedaIEEE, 1995Livre