https://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=b6e7aaf1-cc6a-4b89-b135-4372caba532f
Rechercher Lombardi, Michael A; Rechercher Novick, Andrew N; Rechercher Lopez R, J. Mauricio; Rechercher Jimenez, Francisco; Rechercher de Carlos Lopez, Eduardo; Rechercher Boulanger, Jean-Simon; Rechercher Pelletier, Raymond; Rechercher de Carvalho, Ricardo J; Rechercher Solis, Raul; Rechercher Sanchez, Harold; Rechercher Quevedo, Carlos Andres; Rechercher Pascoe, Gregory; Rechercher Perez, Daniel; Rechercher Bances, Eduardo; Rechercher Trigo, Leonardo; Rechercher Masi, Victor; Rechercher Postigo, Henry; Rechercher Questelles, Anthony; Rechercher Gittens, Anslem
Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology, 1 avril 2011, Volume : 116, Numéro : 2
The goal of the Sistema Interamericano de Metrologia (SIM) is to ensure the uniformity of measurements throughout its region. SIM metrology working groups...
Article de périodique (revue)
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