https://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=a53cddbc-9f30-4e4d-8076-a3a35300c61b
Rechercher Xiao, Caide; Rechercher Boukherroub, Rabah; Rechercher Wojtyk, James T. C; Rechercher Wayner, Danial D. M; Rechercher Luong, John H. T
Langmuir, 17 avril 2002, Volume : 18, Numéro : 10
A theoretical framework is presented to allow for the determination of the basic structural parameters of a porous silicon thin layer using...
Article de périodique (revue)