Monitoring and debugging of distributed real-time systems (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Monitoring and debugging of distributed real-time systemshttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1867473~S6*frcRechercher Tsai, Jeffrey J.-P; Rechercher Yang, Steve J. HIEEE Computer Society Press, 1995, ISBN : 9780818665370Livre
A Program-Erasable High-k Hf0.3N0.2O 0.5 MIS Capacitor with Good Retention (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : A Program-Erasable High-k Hf0.3N0.2O 0.5 MIS Capacitor with Good Retentionhttps://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=24ecf5fb-2035-4146-b2e3-9bb4e12ccc90Rechercher Yang, H. J; Rechercher Chin, A; Rechercher Chen, W. J; Rechercher Cheng, C. F; Rechercher Huang, V; Rechercher Hsieh, I. J; Rechercher McAlister, SeanIEEE Electron Device Letters, 2007, Volume : 28, Numéro : 10Article de périodique (revue)
Improved High-Temperature Leakage in High-Density MIM Capacitors by Using a TiLaO Dielectric and an Ir Electrode (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Improved High-Temperature Leakage in High-Density MIM Capacitors by Using a TiLaO Dielectric and an Ir Electrodehttps://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=733bb21c-fb79-4b23-a4c7-e87b07188726Rechercher Cheng, C. H; Rechercher Pan, H. C; Rechercher Yang, H. J; Rechercher Hsiao, C. N; Rechercher Chou, C. P; Rechercher McAlister, Sean; Rechercher Chin, AIEEE Electron Device Letters, 2007, Volume : 28, Numéro : 12Article de périodique (revue)