https://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=444127ab-3f81-4727-b030-99104f03da5c
Rechercher Bergen, Michael; Rechercher Malac, Marek; Rechercher Mcleod, Robert A; Rechercher Hoyle, David; Rechercher Taniguchi, Yoshifumi; Rechercher Yaguchi, Toshie; Rechercher Chen, Jian; Rechercher Yotsuji, Takafumi
Microscopy and Microanalysis, Cambridge University Press, 9 octobre 2013, Volume : 19, Numéro : S2
Modern transmission electron microscope (TEM) enables complicated experiments that require many hardware (HW) units to work together correctly. For example, an...
Article de périodique (revue)