Advanced transmission electron microscopy : imaging and diffraction in nanoscience (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Advanced transmission electron microscopy : imaging and diffraction in nanosciencehttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=4086020~S6*frcRechercher Zuo, Jian Min; Rechercher Spence, John C. HSpringer, 2017, ISBN : 9781493966073Livre